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  • 光譜隨偏儀

    光譜橢偏儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。由于與樣品非接觸,對(duì)樣品沒(méi)有破壞且不需要真空,使得橢偏儀成為一種吸引力的測(cè)量設(shè)備。

    更新時(shí)間:2023-11-19

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

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